Angewandte Normen
- DIN EN ISO/IEC 17025
- DIN EN ISO 3497
Weltweit anerkannte zerstörungsfreie Schichtdickenmessung zur Untersuchung von Metallbeschichtungen im Mikro- und Nanometerbereich, z. B.:
- Lötoberflächen von Leiterplatten und deren Schutzlacke
- Beschichtungen von Lötkontakten oder Steckverbindern
- Korrosionsschutzschichten
- Chromatierungen
- Veredelungen (z. B. Vergoldung von Schmuck)
Methoden zur Schichtdickenmessung, z. B.:
Die zerstörungsfreie RFA ist die am häufigsten eingesetzte Methode zur qualitativen und quantitativen Bestimmung der Schichtdicken einer Probe im Nanometer- und Mikrometerbereich.
Im „Akkreditierten Prüflabor für Materialanalysen“ von HTV (internationaler Standard DIN EN ISO/IEC 17025) können nach DIN EN ISO 3497 „Schichtdickenmessungen an MetaIlen mit dem RöntgenfIuoreszenz-Verfahren“ durchgeführt werden.
Mithilfe dieser Methode lassen sich zur Qualifikation oder auch serienbegleitenden Qualitätskontrolle von Beschichtungen beispielsweise die Hartgold-Platings auf Steckverbindern oder die Schichtdicken eines Leiterplatten-Finishs schnell und zerstörungsfrei überprüfen.
Als eines von wenigen Laboren in Deutschland bietet HTV damit Ergebnisse für Schichtdickenmessungen mit der RöntgenfIuoreszenz-Analyse (RFA) an, die international anerkannt und weltweit vergleichbar sind.
