OTP-Alive Verfahren zur Löschung und Neuprogrammierung von normalerweise nur einmal programmierbaren Bauteilen (OTPs)
Mögliche Anwendungsbereiche:
- Löschen und Neuprogrammieren einer Vielzahl von OTP-Bauteilen, z. B.:
- UPD75Pxxx
- NM27C256xxx
- EP910xx
Bei elektronischen Bauteilen mit der Floating-Gate-Technologie (z. B. bei EPROMs oder EPLDs) können programmierte Speicher über ein Fenster durch Bestrahlung mit UV-Licht gelöscht werden. Bei OTP-Bauteilen ist auf Grund des Gehäuseaufbaus (kein Fenster) nach erfolgter Erstprogrammierung ein Löschen mit UV-Licht nicht möglich. In der Vergangenheit hatte dies zur Folge, dass falsch programmierte Lagerware oder programmierte Zukaufteile nicht wieder verwendet werden konnten. Der komplette Baustein musste ausgetauscht und verschrottet werden.
Beim weltweit einmaligen OTP-Alive Verfahren werden nach aufwendiger Bauteilöffnung die zu löschenden Speicherbereiche definiert und der Inhalt des Bausteins lokal gelöscht. Nach anschließender mikroskopischer Qualitätskontrolle kann das Bauteil neuprogrammiert, verifiziert, und mit einer speziellen Moldmasse fachgerecht verschlossen werden.
