Testhaus

ALTER | HTV – Testkompetenz seit über 30 Jahren

Elektrischer Test

Bauteilprüfung gemäß Datenblatt oder Kundenspezifikation >

Prüfung optischer Parameter

Lichtmesstechnik für optoelektronische Komponenten >

Umweltprüfung / Qualifikation

Beschleunigte Alterung und Stresstests an Bauteilen und Baugruppen >

Baugruppentest

Umfassende Tests und Analysen speziell für Baugruppen >

ASIC-Design / ASIC-Test

Entwicklung, Testprogramme,
Packaging >

MTBF-Berechnung

Ermittlung der Zuverlässigkeit von Baugruppen, Geräten und Anlagen >

Fehleranalyse

Umfassende Analytikdienstleistungen zur Qualitätssicherung >

Speicherqualifizierung

z. B. nach AEC-Q oder Qualifizierung von Flash-Speichern >

Inspektion / Funktionsprüfung

z. B. Leadinspection >

Mechanischer Test

z. B. Pull- und Sheartest >

Testprogrammerstellung

Kundenspezifische Testprogramm-
erstellung (z. B. Selektion) >

Werkstoffprüfung

Materialprüfung sowie Bestimmung der mechanischen Eigenschaften >

ALTER | HTV bietet umfassende Konzepte rund um das Testen elektronischer
und mechanischer Komponenten (auch in Serienstückzahlen) auf Bauteil- und Waferbasis

  • Branchenübergreifendes Vertrauen: Unternehmen aus Automotive, Telekommunikation, Luft- und Raumfahrt, Medizintechnik und Sicherheitstechnik setzen auf die Testkompetenz von HTV.
  • Hochmoderner Maschinenpark: Vollautomatische Großtestsysteme und selbst entwickelte Testsysteme ermöglichen präzise Messungen an komplexen Schaltkreisen mit einer Kapazität von mehreren hunderttausend Teilen pro Tag.
  • Umfassende Prüfungen: Eine Vielzahl von Bauteiltypen können unter verschiedenen Umgebungstemperaturen getestet werden.
  • Individuelle Testprogramme: Das HTV-Entwicklungsteam erstellt maßgeschneiderte Testprogramme, die auf spezifische Kundenanforderungen zugeschnitten sind.
  • Vielfältige Bauteilprüfung: Von einfachen Widerständen und Kondensatoren, über diskrete Halbleiter wie Dioden, Transistoren, MOSFETs, IGBTs, LDOs, DCDC-Converter bis hin zu komplexen Schaltkreisen wie ASICS, geprüft nach Datenblatt oder Kundenspezifikation.

Neueste Generation von Testsystemen

Als zukunftsorientierte Firma ist ALTER | HTV stets darauf bedacht, seine Technologie vorausschauend und nachhaltig auf dem aktuellsten Stand zu halten. Der umfangreiche Maschinenpark von ALTER | HTV wurde um zwei neue, hochmoderne Testsysteme
erweitert.

JungerMann arbeitet am ACCRETECH UF2000 um Wafer-Tests durchzuführen

Das Advantest V93K EXA Scale ist ein hochmodernes Testsystem, das durch seine hohe Flexibilität die Halbleiter-Testindustrie in den kommenden Jahren prägen wird. Ausgestattet mit der neuesten Betriebssoftware SmarTest 8, bietet der EXA Scale ein breites Spektrum an Testmöglichkeiten für analoge und digitale Signale. Diese Vielseitigkeit ermöglicht es ALTER | HTV, auf spezifische Kundenanforderungen flexibel zu reagieren und maßgeschneiderte Lösungen anzubieten.

Der vollautomatische Wafer-Prober ACCRETECH UF2000 ist eines der marktführenden Werkzeuge für die elektrische Chip-Prüfung auf Wafer-Basis. Mit einer Präzision von ±1,5 Mikrometern gewährleistet der UF2000 höchste Standards in der Genauigkeit und ist für gängige 4-8 Zoll-Wafer ausgelegt. Die Möglichkeit bei Temperaturen bis zu +200° C zu testen ist ein wichtiger Aspekt der Zuverlässigkeitsprüfung und Charakterisierung von Halbleiterchips.