Elektrischer Test

Bauteilprüfung und Selektion nach Datenblatt oder Kundenspezifikation

Mögliche Anwendungsbereiche:

• Prüfung gemäß Datenblatt
• Kundenspezifische Bauteilprüfung
• Umfassende Testmöglichkeiten
• Selektion nach Kundenspezifikation
• Wafer-Tests
• Eigene Testprogrammentwicklung
• Originalitätsprüfung und Programmierung

Hochpräzise Bauteilprüfung bei ALTER | HTV

Bei ALTER | HTV bieten wir umfassende Bauteilprüfungen an, die sowohl nach Vorgaben des Datenblatts als auch nach individuellen Kundenspezifikationen gestaltet werden können. Unsere hochmodernen Großtestsysteme und speziell entwickelten Prüfapplikationen gewährleisten die elektrische Funktionalität von elektronischen Bauteilen und Baugruppen, sei es digital, analog oder Mixed Signal.

Prüfung gemäß Datenblatt

Im Rahmen der Datenblattprüfung testen wir eine Vielzahl von Parametern unter verschiedenen Temperaturbedingungen (Raum-, Hoch- oder Tieftemperatur von -60°C bis +150°C). Diese Prüfungen sind entscheidend, um die Qualität und Originalität der Bauteile sicherzustellen, insbesondere bei Bauteilen unklarer Herkunft, da so bereits ohne weiterführende Analysen (wie z. B. Röntgen, Wischtest) eine erste Aussage bezüglich der Originalität des Bausteins getroffen werden kann.

Kundenspezifische Bauteilprüfung

Für Anwendungen, die über die Standardspezifikationen des Datenblatts hinausgehen, bieten wir die Bauteilprüfung gemäß Kundenspezifikation an. Hierbei testen wir nach kundenspezifischen Grenzen für Temperatur, Spannung und elektrische Kennwerte, um sicherzustellen, dass die Bauteile den individuellen Anforderungen entsprechen.

Umfassende Testmöglichkeiten

Unsere vielfältigen Mess- und Prüfsysteme ermöglichen die umfassende Überprüfung von Einzelbauteilen wie ICs, ASICs, Transistoren und Operationsverstärkern sowie komplexen Sensoren, Displays und ganzen Baugruppen. Außerdem Funktionstests elektronischer Komponenten mit Hochspannung oder Hochstrom.

Originalitätsprüfung und Programmierung

Zur Überprüfung des Speichers programmierbarer Bauteile wird ein Blankcheck durchgeführt. Diese Methode stellt sicher, dass der Speicherbereich des Chips leer ist. Unsere Prüfung durch Programmierung ermöglicht es, die Ansprechbarkeit und Speicherintegrität der Bauteile schnell und sicher zu verifizieren.

Selektion nach Kundenspezifikation

Unsere Selektionsverfahren sortieren Bauteile nach kundenspezifischen elektrischen Parametern. Dies ermöglicht eine präzise Einteilung in Selektionsklassen, um beispielsweise LEDs nach Farbtemperatur zu kategorisieren und Farbabweichungen im Einsatz zu vermeiden.

Wafer-Tests

Um kosteneffizient zu arbeiten und fehlerhafte Dies frühzeitig zu identifizieren, testen wir Bausteine direkt auf dem Wafer, auch unter Hochtemperatureinfluss. Beim Test wird ein elektronisches Wafermap erstellt, auf dem die fehlerhaften Dies markiert sind, um ein späteres Aussortieren zu erleichtern. Auf Wunsch kann auch ein Inken der fehlerhaften Bausteine auf dem Wafer (bis 6 Zoll) durchgeführt werden.

Zusammenfassung:

ALTER | HTV bietet sowohl reguläre als auch maßgeschneiderte Lösungen für die Bauteilprüfung und Selektion, die den höchsten Qualitätsstandards entsprechen.

Sie möchten mehr über unsere Dienstleistungen erfahren? Kontaktieren Sie uns jederzeit, nutzen Sie dazu unser Kontaktformular oder setzen Sie sich mit unserem Vertriebsteam in Verbindung, damit wir Ihre spezifischen Anforderungen erfüllen können.